telonio · Mehrsprachiger TARIC-Katalog · 21. 8. 2026
9030 82 00 — zum Messen oder Prüfen von Halbleiterscheiben (wafers) oder Halbleiterbauelementen (einschließlich integrierter Schaltungen)
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Richtwert. Verbindlich sind nur die offiziellen Quellen (TARIC).