Catalogue / 9031 41 00 / Compare countries

9031 41 00 — For inspecting semiconductor wafers or devices (including integrated circuits) or for inspecting photomasks or reticles used in manufacturing semiconductor devices (including integrated circuits)

Pick two countries to compare their national layer for this code side by side – national codes, measures and notes.

— country — CY — Kypr CZ — Česko DE — Německo EE — Estonsko ES — Španělsko FI — Finsko FR — Francie NL — Nizozemsko PL — Polsko SE — Švédsko SK — Slovensko vs — country — CY — Kypr CZ — Česko DE — Německo EE — Estonsko ES — Španělsko FI — Finsko FR — Francie NL — Nizozemsko PL — Polsko SE — Švédsko SK — Slovensko